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La plateforme propose une large expertise dans le domaine du champ proche de la simple analyse de la topographie de surface, à la mesure électrique, chimique et mécanique des échantillons.
L’équipe maîtrise une variété de microscopie :
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à force pulsée (PinPoint, PeakForce), couplée avec de l’infra-rouge (AFM-IR),
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à force latérale (LFM),
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à effet tunnel (STM, STS),
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à force piézoélectrique (PFM), conductive (C-AFM),
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à force électrostatique (EFM), de Kelvin (KPFM), par modulation de fréquence (FM-AFM),
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en milieu liquide ou en environnement contrôlé, par sonde colloïdale fonctionnalisée (CP-AFM), etc.

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